10-й Всероссийский симпозиум «Термодинамика и материаловедение» является продолжением серии семинаров Сибирского и Уральского отделений РАН, проводимых поочередно в Новосибирске (ИНХ СО РАН) и Екатеринбурге (ИХТТ УрО РАН), начиная с 2000 года.

Прошедший симпозиум был посвящен обсуждению результатов и перспектив фундаментальных исследований в области химической термодинамики неорганических систем и физикохимии функциональных материалов. Большое внимание было уделено современным проблемам экспериментального и теоретического изучения термодинамических свойств неорганических соединений, развитию методов термодинамического моделирования сложных многокомпонентных многофазных систем, вопросам синтеза и исследования свойств новых конструкционных и функциональных материалов, в том числе наноструктурированных.

Тезисы докладов и сообщений, включенных в программу, были опубликованы в сборнике. Здесь можно ознакомиться с тезисами и постером нашего стендового доклада на тему Фотоэлектронная дифракция и голография как комплексный метод исследования структуры поверхности на примере Fe/Bi₂Te₃.

Фотографии, сделанные во время проведения конференции, вы можете найти здесь.

Написанная в среде разработки WaveMetrics™ Igor® программа XPDProcessor предназначена для автоматизации расчетов и исследований комплексным методом рентгеновской фотоэлектронной дифракции и голографии.

Основные особенности программы:

• формирует все необходимые для проведения расчетов картин дифракции с помощью программы EDAC файлы: кластеры заданной структуры и командные файлы
• позволяет проволить оценку достоверности структуры по экспериментальной и теоретическим дифракционным картинам с помощью R-факторного анализа
• визуализирует кластеры и строит распределение пиков прямого рассеяния
• визуализирует полученные с помощью программы SPEA-MEM трехмерные изображения структуры и их сечения

Для работы программы XPDProcessor требуются программы EDAC, SPEA-MEM и среда разработки WaveMetrics™ Igor®.

Скачать последнюю версию программы XPDProcessor можно здесь.

Написанная в среде разработки WaveMetrics™ Igor® программа XPDPanel предназначена для визуализации, компьютерной обработки и экспорта в удобном для кодов EDAC и SPEA-MEM форматах записанных на тороидальном электронном спектрометре La Trobe и электронном спектрометре ESCALAB MK II картин дифракции фото- и Оже-электронов.

Для работы программы XPDPanel требуется пакет обработки данных тороидального анализатора и среда разработки WaveMetrics™ Igor®.

Скачать последнюю версию программы XPDPanel можно здесь.

Mikhail V. Kuznetsov, Lada V. Yashina, Jaime Sánchez-Barriga, Ilya I. Ogorodnikov, Andrey S. Vorokh, Andrey A. Volykhov, Roland J. Koch, Vera S. Neudachina, Marina E. Tamm, Anna P. Sirotina, Andrei Yu. Varykhalov, Gunther Springholz, Günther Bauer, John D. Riley, and Oliver Rader

Phys. Rev. B, V. 91, P. 085402. DOI

ABSTRACT. Understanding how topologically protected surface states behave at surfaces and interfaces requires knowledge of the atomic structure. Whether the (111) surfaces of the prototypical topological insulators Bi₂Se₃ and Bi₂Te₃ are Bi or chalcogen terminated is the subject of current controversies. We employ photoelectron diffraction and holography, combining the advantages and avoiding the disadvantages of the contesting techniques previously used. We find bulklike chalcogen termination with a very small surface relaxation (<1%) in agreement with density functional theory simulations. We prove the chalcogen termination for cleaved crystals and epitaxial films which shows the robustness of our conclusions.